近日，Rilink科技正式推出了中国工业X射线检测领域的首个AI图像超增强系统——UEX。凭借自研的垂直视觉大模型和大规模高质量图像数据集，克服了传统算法在成像质量、场景适应性和处理效率上的长期瓶颈，为半导体、新能源和汽车等高端产业提供了新一代智能检测基础。
UEX系统的核心在于深度学习与工业X射线成像的深度集成。它采用深度神经网络自学习机制，集成了多种AI图像增强算法，如降噪、去模糊、低光增强、对比度优化和超分辨率。它能在15毫秒内完成1536×1536像素图像的全过程优化，端到端算法服务和软件通信延迟低于10毫秒，满足高速生产线的需求。
该系统有四项技术优势：
| – 卓越清晰度 | 显著提升图像细节和信噪比，使微米级缺陷清晰可见; |
| – 超高速处理 | 单帧处理仅需15毫秒，显著提升检测吞吐量; |
| – 灵活比较 | 配套的可视化程序支持一键比较增强效果和原创效果; |
– 一键多功能：支持多项增强模块的灵活组合，兼容不同设备和平台。
在实际应用中，UEX体现了两个核心价值观：
1. 准确的缺陷分析：它在增强图像的同时保留关键特征信息，为后续AI缺陷识别提供高质量输入;
2. 高效且绿色检测：成像时间缩短多达80%，不仅提升检测效率，还显著降低产品接收的辐射剂量，实现“快速、准确且安全”的集成。
目前，UEX已全面部署于Rilink科技整个工业检验平台，涵盖半导体封装、锂电池电极片、汽车铸件和食品异质检测等高需求检测场景。其支持来自Rilink科技在中国首创的大型高质量工业X射线图像数据集，以及自研的工业愿景图像质量评估系统，真正实现了“数据-模型-应用”闭环。
